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半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備
- 產(chǎn)品用途:半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備是專(zhuān)業(yè)用于電子電工環(huán)境老化的試驗(yàn)設(shè)備,可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境,適用于塑膠、電子電工產(chǎn)品、食品、儀器儀表、零部件、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。
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半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備
設(shè)備介紹:
產(chǎn)品用途:半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備是專(zhuān)業(yè)用于電子電工環(huán)境老化的試驗(yàn)設(shè)備,可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境,適用于塑膠、電子電工產(chǎn)品、食品、儀器儀表、零部件、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。
執(zhí)行滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法:
GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GJB150.4 低溫試驗(yàn)
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備技術(shù)參數(shù):
1.試驗(yàn)箱容積:80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L(其它可非標(biāo)定制)
2.內(nèi)箱尺寸:最小W(寬)400 mm×H(高)500mm×D(深)400mm起
3.調(diào)溫調(diào)濕:靜平衡制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù)(國(guó)際先進(jìn)技術(shù))
4.溫度范圍:C:-40℃~+150℃;D:-70℃~+150℃;B:-20℃~+150℃;A:0℃~+150℃
5.濕度范圍:20% ~ 98%RH
6.溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
7.濕度波動(dòng)度:≤±2.5%RH
8.溫度偏差:≤±2.0℃
9.濕度偏差:+2~-3%(>75%RH),±5%(≤75%RH)
10.溫度均勻度:≤2.0℃
11.升溫時(shí)間:+20℃升至+150℃,全程平均,3℃/分鐘
12.降溫時(shí)間:+20℃降至-70℃,全程平均,1℃/分鐘
13.冷卻方式:風(fēng)冷
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備以上介紹的所有環(huán)境試驗(yàn)箱東莞市愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司均有生產(chǎn)、銷(xiāo)售及服務(wù),當(dāng)然還有更多模擬環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備還沒(méi)有一一列出,如有需求敬請(qǐng)與我司業(yè)務(wù)員聯(lián)系,會(huì)有專(zhuān)業(yè)的客服人員為大家選型、報(bào)價(jià)及提供詳細(xì)的技術(shù)方案供大家參考,聯(lián)系電話:0769-81015056或撥打全國(guó)免費(fèi)電話:400-6727-800。
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