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電子器件沖擊箱|電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱
- 電子器件沖擊箱與電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱是一樣的意思,針對的是同一類同一標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱,此類試驗(yàn)箱是專業(yè)提供給電子器件在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)必備的試驗(yàn)設(shè)備,結(jié)婚分為兩箱式和三箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為:GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
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電子器件沖擊箱|電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱
詳細(xì)介紹:
電子器件沖擊箱與電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱是一樣的意思,針對的是同一類同一標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)箱,此類試驗(yàn)箱是專業(yè)提供給電子器件在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)必備的試驗(yàn)設(shè)備,結(jié)婚分為兩箱式和三箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同,產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為:GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
電子器件沖擊箱|電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸最小:W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標(biāo)準(zhǔn)尺寸可選擇,也可定制非標(biāo)尺寸)
2.外箱尺寸:以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
4.升溫時(shí)間: +60℃~200℃≤30min;
5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍: -75~-10℃;
6.降溫時(shí)間: +20℃~-75℃≤60min;﹙注:降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚
7.試驗(yàn)方式: 氣動(dòng)風(fēng)門切換
8.溫度沖擊范圍: ﹙+60℃~+150℃﹚/﹙-65℃~-10℃﹚
9.溫度偏差: ±2.0℃
10.溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
11溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5分鐘
12.試樣限制:本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;
電子器件沖擊箱|電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱破壞能力超強(qiáng),功率比普通高低溫試驗(yàn)箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對高許多。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對電工、電子產(chǎn)品,以及其元器件等各類產(chǎn)品按照國家軍用標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn),試驗(yàn)后,通過檢測,來判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供各類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。如有需要請聯(lián)系生產(chǎn)廠家東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司,價(jià)格及質(zhì)量上有絕對優(yōu)勢,歡迎前來咨詢,謝謝。
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