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電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱

  • 電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱 根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗方式和設備的內部結構不同。三箱式分為蓄冷箱,蓄熱箱和試驗箱,產品在測試時是放置在試驗箱內。兩箱式分為高溫箱和低溫箱,是通過電機帶動吊籃升降來實現(xiàn)高低溫的切換,要測試的通信、通訊產品放在吊籃里,是隨吊籃一起移動的.更多可聯(lián)系18033338362.
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    電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱

    設備介紹:

       電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱 根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于試驗方式和設備的內部結構不同。三箱式分為蓄冷箱,蓄熱箱和試驗箱,產品在測試時是放置在試驗箱內。兩箱式分為高溫箱和低溫箱,是通過電機帶動吊籃升降來實現(xiàn)高低溫的切換,要測試的通信、通訊產品放在吊籃里,是隨吊籃一起移動的.更多可聯(lián)系18033338362.

    電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱主要參數(shù):

    1.內箱尺寸: 350*400*350mm  (寬,高,深)

      外箱尺寸: 1560*2000*1500  (寬,高,深)

    2.高低溫度沖擊范圍:-40℃~+150℃(測試箱溫度范圍)

    3.預熱溫度范圍:常溫~+165℃;(儲存箱溫度范圍)

    4.預冷溫度范圍:常溫~-65℃;約60min(儲存箱溫度范圍)

                                (注:降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能)

    5.試驗方式:2溫區(qū)或3溫區(qū)可選擇;

    6.溫度波動度:±0.5℃

    7.溫度偏差:±2.0℃

    8.溫度沖擊恢復時間:≤5min

    9.溫度沖擊移動復時間:≤10S

    10.試樣限制:本實驗設備禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存;腐蝕性物質試樣的試驗或儲存;生物試樣的試驗或儲存;強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。

    電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱測控系統(tǒng):

    1.控制器:日本OYO9226S觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊

    2.運行方式:程序方式

         ﹙1﹚控制對象  試驗區(qū)曝露溫度

                         高溫恒溫區(qū)預熱溫度

                         低溫恒溫區(qū)預熱溫度

                         低溫恒溫區(qū)除霜溫度

         ﹙2﹚指示精度  0.1℃

         ﹙3﹚輸    入  熱電偶  TDIN

         ﹙4﹚控制方式  微電腦PID+SSR控制

    3.設定方式:中文菜單,觸摸屏方式輸入。

    4.程序容量:100組程式,每個程序最大3步;每個程序可設1000次循環(huán),最大循環(huán)設定9999cycles;

    5.設定范圍:預熱預冷箱區(qū)

        原理:電子設備高低溫測試設備 冷熱循環(huán)試驗箱主要用于測試復合材料或材料結構在瞬間下經極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下沖擊所能忍受的程度,得以在最短時間內檢測樣品因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。是LED、金屬、光電、塑料、照明、橡膠、通訊、電子等成品或半成品材料行業(yè)必備的溫沖測試設備。


     

     

     

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