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高低溫老化設(shè)備箱|高低溫老化試驗設(shè)備

  • 高低溫老化設(shè)備箱|高低溫老化試驗設(shè)備用來試驗材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料在經(jīng)高溫及低溫恒定或者循環(huán)的連續(xù)溫度變化的環(huán)境下所能承受的程度及物理反應(yīng),檢驗各種工業(yè)產(chǎn)品的性能及可靠性指標??勺鳛槠淙祟惛倪M的工業(yè)產(chǎn)品的依據(jù)或參考。適用的對象非常廣泛,行業(yè)之多數(shù)不勝數(shù),包括電子電器電工,LED光電照明關(guān)連行業(yè),汽車配件,化工涂料,建材,手機電腦的成品或者半成品,鋰電池,塑膠五金、金屬、航空航天、橡膠、船舶兵器、衛(wèi)浴用品……等材料,對企業(yè)工廠、高等院校、科研單位等有需要的單位或者企業(yè)用。
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    高低溫老化設(shè)備箱|高低溫老化試驗設(shè)備


    設(shè)備介紹:

    高低溫老化設(shè)備箱|高低溫老化試驗設(shè)備準規(guī)格說明:【愛佩可依客戶的要求來制作箱體大小】

    設(shè)備型號:AP-GD系列(交變試驗)

    80升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:40×50×1000px;②外箱尺寸:92×155×2175px

    100升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:40×50×1250px;②外箱尺寸:92×155×2425px

    120升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:40×60×1250px;②外箱尺寸:92×165×2425px

    150升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:50×60×1250px;②外箱尺寸:102×165×2425px

    225升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:50×75×1500px;②外箱尺寸:102×180×2675px

    408升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:60×85×2000px;②外箱尺寸:112×190×3175px

    800升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:100×100×2000px;②外箱尺寸:152×205×3175px

    1000升箱體尺寸:

    ①內(nèi)箱尺寸:100×100×2500px;②外箱尺寸:152×205×3675px

    溫度范圍有:0~150℃;-20~150℃;-40~150℃;-70~150

    溫度均勻度:2℃ (空載時)

    溫度波動度:±0.5℃ (空載時)

    溫度偏差:±2

    降溫速率:0.751.0/min

    升溫速度:1.03.0/min

    時間設(shè)定范圍:19999H

    控制系統(tǒng):控制器采用國外進口微電腦溫度集成控制器(全觸摸屏控制,中英語可切換)。

    精度范圍:設(shè)定精度:溫度±0.01℃、指示精度:溫度± 0.1℃、溫度傳感器:鉑鉑金電阻·PT100Ω。

    加熱系統(tǒng) 完全獨立系統(tǒng),鎳鉻合金電加熱式加熱器。循環(huán)系統(tǒng):耐低溫噪音空調(diào)型電機,多葉式離心風(fēng)輪。

    制冷系統(tǒng):低溫制冷采用全封閉式壓縮機機組。蒸發(fā)冷凝器既作為高溫級的蒸發(fā)器,又作為低溫級的冷凝器。為確保系統(tǒng)安全運行,在系統(tǒng)中需設(shè)置高低壓控制、超壓、過載等保護系統(tǒng)。同時為了監(jiān)測系統(tǒng)運行情況,在高低壓端均需設(shè)有高低壓表監(jiān)測系統(tǒng)運行情況。制冷量調(diào)節(jié)采用分流法。

    曲線記錄功能:在機器停機狀態(tài)下,可隨時插入U盤導(dǎo)出或上傳數(shù)據(jù),并可通過隨機贈送軟件將導(dǎo)出來的文件在電腦查看或轉(zhuǎn)成EXCEL格式。儀表配備USB端口,可直接通過端口驅(qū)動微型打印機預(yù)覽及打?。ㄟx配)。

    高低溫老化設(shè)備箱|高低溫老化試驗設(shè)備執(zhí)行與滿足標準

    GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

    GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;

    GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;

    GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法;

    GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》;

    GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》;。

    MIL-STD810D方法502.2 美國軍用標準;

    IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗

    EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

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    高低溫箱,高低溫機,高低溫試驗箱

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