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移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱

  • 移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或低溫連續(xù)的環(huán)境下物理性能的可靠性,也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選(溫度循環(huán))、高/低溫環(huán)境適應(yīng)性和可靠性試驗(yàn),對各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實(shí)際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。主要用于設(shè)備零部件、汽車配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)必備的檢測設(shè)備。
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    移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱

    設(shè)備介紹:

    移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或低溫連續(xù)的環(huán)境下物理性能的可靠性,也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選(溫度循環(huán))、高/低溫環(huán)境適應(yīng)性和可靠性試驗(yàn),對各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實(shí)際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。主要用于設(shè)備零部件、汽車配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關(guān)行業(yè)必備的檢測設(shè)備。

    產(chǎn)品特性

    1、獨(dú)特的三箱式結(jié)構(gòu),三個(gè)室體由氣動(dòng)門隔離,避免樣品頻繁移動(dòng),更有利于試品做通電試驗(yàn);

    2、可分別做高溫、低溫、常溫、高低溫沖擊試驗(yàn);

    3、進(jìn)口制冷機(jī)組及電氣控制零配件,大大提高了設(shè)備運(yùn)行的可靠性;

    4、風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成,冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成;

    5、高低溫沖擊試驗(yàn)箱采用觸控式彩色液晶顯示人機(jī)界面控制器,操作簡單、學(xué)習(xí)容易;

    6、設(shè)備外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、高質(zhì)量高性能,電器配件進(jìn)口原件;

    7、制冷系統(tǒng)采用復(fù)疊式制冷,快速,穩(wěn)定,省電型高效率壓縮機(jī)(采用原裝進(jìn)口法國泰康或德國谷輪壓縮機(jī));

    8、蒸發(fā)器采用水浸查漏方法,模塊化制冷機(jī)組,查漏徹底,確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行;

    9、蓄熱區(qū)、蓄冷區(qū)采用多翼式循環(huán)風(fēng)扇,強(qiáng)制風(fēng)量對流,提高均勻溫度效果;

    10、高均勻度的正壓式風(fēng)道系統(tǒng),溫度均勻高。 用最新的自動(dòng)除霜技術(shù),使除霜時(shí)間縮短;

    11、超強(qiáng)安全保護(hù)功能:電源過載保護(hù)、漏電保護(hù)、控制回路過載、短路保護(hù)、壓縮機(jī)保護(hù)、接地保護(hù)、超溫保護(hù)、報(bào)警聲訊提示等。

    移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱常規(guī)設(shè)備與參數(shù):   

    型號(hào):AP-CJ-80C

    溫度范圍: -65℃~+100℃(+150℃)

    試驗(yàn)箱尺寸(W×H×D)mm:500×400×400

    高溫槽尺寸(W×H×D)mm:400×400×400

    低溫槽尺寸(W×H×D)mm:400×500×400

    備注:更多移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱尺寸選型可聯(lián)系我司愛佩業(yè)務(wù)部門,服務(wù)熱線:0769-81015056/18988712117李冬梅。

    樣品隔層架對試驗(yàn)物的承重量:2.5kg以內(nèi),如有超重的測試物請下單時(shí)注明。

    高溫上升時(shí)間約:40min

    低溫下降時(shí)間約:80min

    高溫槽溫度最高可儲(chǔ)存至:60℃~200℃

    低溫槽溫度最低可儲(chǔ)存至:-70℃~-10℃

    溫度移動(dòng)沖擊時(shí)間在:10秒鐘內(nèi)

    溫度沖擊恢復(fù)穩(wěn)定時(shí)間在:3~5分鐘內(nèi)

    移動(dòng)式溫度沖擊試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn):

    GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn);GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn);GJB 150.5A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)。


     

     

     

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